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        電子探針微分析儀

        (EPMA-8050G)

        檢測各種電子器件的微觀形貌和成分

        EPMA-8050G是EPMA-1720(H)的升級產品,是EPMA業界的新機型,可通過非破壞的方式,在高放大倍數下對各種電子器件的微觀形貌進行觀察,查找各種缺陷,并對其進行精準的成分分析,從而找到改進方案。

        廠家 島津企業管理(中國)有限公司
        產品分類 圖像分析檢測儀器/表面檢查(77) ? 表面形狀測試裝置(17) ? 探針顯微鏡(1)

        特征

        (1) 高空間分辨的二次電子像,分辨率高達3nm;
        (2) 配備高質量分辨的背散射電子檢測器,可以快速輔助查找分析區域。
        (3) 配備成套的標準樣品,可對材料進行精準的成分分析。
        (4) 可對超輕元素(B~F)進行高精度的成分分析。

        用途

        電子零部件、電路板、樹脂及塑料零部件、小型零部件、電池的內部缺陷判斷及測量

        應用行業

        材料 金屬材料
        非金屬材料


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